多元融合 高效并发



       NANOCHECK系列是基于传统计算机视觉算法与AI深度学习算法优化融合的晶圆缺陷光学检测平台。对光照、对比度、噪点有超强自适应能力；周期性图案、非周期性图案、混合型图案、无图案均能具备轻松应对。

       系统配置多个功能模块，一站式、高速、准确检出并定位晶圆缺陷及表面品质问题，在28nm制程 Bright Field (PixSize=50nm) 中检测速度仍可达到9.1 WPH。



 


  ·  产品亮点


亮点三：

快速部署升级

    

 · 具备跨平台编译技术，升级效率高，小需求从修改到上线只需要4个小时


·  GPU集群可随时叠加


· 预订硬件后2个月内可实现软件首次试运行




      


算法举例：图像曝光校正

亮点二：

全面国产化技术支持

    


· 具备多款国产CPU/GPU硬件随机发货、软件交付和运行不受影响的能力
· 不使用国外付费开发工具链和软件组件 
· 已适配ARM、MIPS(LoongARC)、RISC-V指令集


      


优势总结